OWADMS-01 Optysk wighoekôfwikingsmjittingssysteem Featured Image

OWADMS-01 Optysk wighoekôfwikingsmjittingssysteem

Koarte beskriuwing:

It OWADMS-01 Optysk Wedge Hoekôfwikingsmjittingssysteem kin automatysk de optyske hoekôfwiking, binokulêre ôfwiking en wighoek fan optyske samples mjitte. It kin de optyske hoekôfwiking en binokulêre ôfwiking fan glês mjitte, lykas de optyske wighoek yn it HUD-gebiet fan auto-rútglês neffens ASTM F801 − 21 < Standert testmetoade foar it mjitten fan optyske hoekôfwiking fan transparante ûnderdielen>. It mjitsysteem kin line-scanmjittingen útfiere op meardere oanwiisde gebieten en punten fan it stekproef tagelyk. De line-scanresultaten kinne wurde oanpast mei rjochte linen, en de mjitresultaten kinne wurde argyfearre en laden.

Stjoer e-post nei ús

Produktdetail

Produktlabels

Applikaasjes

● wighoek fan HUD-gebiet fan autofoarrút

● optyske hoekeôfwiking fan transparante dielen

● binokulêre ôfwiking fan transparante dielen

Konfiguraasjes

It systeem bestiet út in laserljochtboarnesensorsysteem *, in elektroanyske kontrôlemonsterstipe, in yndustriële PC en in softwaresysteem.

Parameters

Mjitberik: 70 '/ 4200 "/ 20 mardResolúsje: 0.04 '/2 "/0.01 mard

Wurktemperatuer: 15 ~ 35 graden Celsius

Relative fochtigens: <85%

Stromfoarsjenning: 220VACLjochtboarne: laser

Golflingte: 532nm

Krêft: <1mw

KONTAKT

Kontaktpersoan: Jeff Li

Tel: +86 153 2112 8188

Email: jeffoptics@hotmail.com

Webside: www.jeffoptics.com

Taheakje: Adres: Keamer 212, 2 / F, Gebou 3, Beijing Bona Electric Co., Ltd., G6 ekstra wei, Changping District, Beijing, 102208, PRC

* It sensorsysteem fan 'e laserljochtboarne hat deselde spesifikaasjes as it SIS02 Secondary Image Separation Test System en kin útwiksele wurde.

Foarige: It Sekundêre Ofbyldingsskiedingstestsysteem – Labferzje

Folgjende:

Skriuw jo berjocht hjir en stjoer it nei ús

Produkt oanbefelling